NITTOSEIKO日东精工低电阻率自动测量系统

                            产品型号：MCP-S330

                            简介：特征

导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。

能够绘制*大300mm见方的样品并连续测量多个样品。

可连接到 Loresta GX 以测量 10-4 至 10+7Ω 范围

全自动测量、计算、数据处理和3D图形输出不受样品形状影响，**测量表面电阻率[Ω/▢]和体积电阻率[Ω･cm] 

特征 

导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。 

能够绘制*大300mm见方的样品并连续测量多个样品。 

可连接到 Loresta GX 以测量 10-4 至 10+7Ω 范围 

全自动测量、计算、数据处理和3D图形输出 

导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。 

随着显示器件（液晶和有机EL）要求具有更快的响应速度和更高的清晰度，电极基板的均匀性变得更加重要。 

表面电阻率取决于材料。当材料均匀时，薄膜越厚，表面电阻率越低。 

在薄膜领域，薄膜厚度变化通过表面电阻率绘图来评估。

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